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射頻導納物位開關原理簡介
關鍵字：射頻導納物位開關,射頻導納料位開關,射頻導納液位開關 日期：2016-5-20
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射頻導納物位開關廣泛應用于石油、化工、冶金、電力、醫藥、食品、造紙、建材等工業領域。該產品是利用高頻技術，由電子線路產生一個小功率射頻信號于探頭上，探頭作為敏感元件，將來自物位介電常數引起的信號變化反饋給電子線路；由于這些變化包括容量和電導量的變化，因而電子線路處理的是容抗和阻抗的綜合變化信號；進行處理后改變繼電器的輸出狀態。它是在原電容測量的基礎上改進射頻導納測量技術，代表了當今物位測量的新水平。
射頻導納物位開關為了克服附著物的影響，特別于測量電極與接地電極間多增加了一屏蔽電極，以確保信號準位的正確。這種特殊電極構造特別適用于各種不同物料的偵測，并且不受物料附著的影響。
射頻導納物位開關之電極棒有測量電極（Probe）屏蔽電極（Guard）及接地電極（GND）所構成，三種電極間以絕緣材料隔離，當物料碰觸到測量電極時，測量電極與接地電極間之導納會增大，故可藉由此導納之變化，以判斷料位之高低，屏蔽電極置于測量電極與接地電極之間，其信號波形與測量電極之波形完全相同，但兩者完全隔離，獨立，故可以抑制電極棒本身發生物料附著時，Probe與GND由于物料附著所產生之導納變化，使物位開關只感應測量電極與桶壁間之導納變化，故可消除物料附著時之錯誤報警。 |
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